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              BW-3010B 晶體管光耦參數測試儀(雙功能版)
              BW-3010B  晶體管光耦參數測試儀(雙功能版) 價格:15000  元(人民幣) 產地:陜西西安
              最少起訂量:1 發貨地:陜西西安
              上架時間:2024-10-12 11:07:18 瀏覽量:28
              陜西博微電通科技有限責任公司  
              經營模式:生產加工 公司類型:私營有限責任公司
              所屬行業:電子測量儀器 主要客戶:
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              聯系方式

              聯系人:博微電通科技 (先生) 手機:15353786259
              電話: 傳真:
              郵箱:350253797@qq.com 地址:陜西省西咸新區灃東新城鑫森源產業園

              詳細介紹

              BW-3010B

              晶體管光耦參數測試儀(雙功能版)

              BW-3010B型光藕參數測試儀是專為各種4腳三極管型的光電耦合器的功能和參數測試及參數”合格/不合格”(OK/NO)判斷測試。 ,BW-3010B為各種三極管型4腳光藕提供了輸入正向壓降(VF)和輸出反向耐(ICEO)、耐壓BVCEO、傳輸比(CTR)等 。中文軟件界面友好,簡化了系統的操作和編程,提供了快速的一次測試條件和測試參數的設定,測試條件及數據同步存入EEPROM中,測試條件可以任意設置,測試正向壓降和輸出電流可達1A,操作簡便,實用性強。廣泛應用與半導體電子行業、新能源行業、封裝測試、家電行業、科研教育等領域來料檢驗、產品選型等重要檢測設備之一。

              產品電氣參數:

              產品信息

              產品型號:BW-3022A

              產品名稱:晶體管光耦參數測試儀;

              物理規格

              主機尺寸:深 305*寬 280*高 120(mm)

              主機重量:<4.5Kg

              主機顏色:白色系

              電氣環境

              主機功耗:<75W

              環境要求:-20℃~60℃(儲存)、5℃~50℃(工作);

              相對濕度:≯85%;

              大氣壓力:86Kpa~106Kpa;

              防護條件:無較大灰塵,腐蝕或爆炸性氣體,導電粉塵等;

              電網要求:AC220V、±10%、50Hz±1Hz;

              工作時間:連續;


              服務領域:

              晶體管光耦測試儀--便攜式

                  應用場景:

                 ?選型配對(在器件焊接至電路板之前進行全部測試,將測試數據比較一致的器件進行分類配對)

                 ?檢驗篩選(研究所及電子廠的質量部(IQC)對入廠器件進行抽檢/全檢,把控器件的良品率)

                 產品特點:

                 ?大屏幕液晶,中文操作界面,顯示直觀簡潔,操作方面簡單

                 ?大容量EEPROM存儲器,儲存量可多達1000種設置型號數.

                 ?全部可編程的DUT恒流源和電壓源.

                 ?內置繼電器矩陣自動連接所需的測試電路,電壓/電流源和測試回路.

                 ?高壓測試電流分辨率1uA,測試電壓可達1500V;

                 ?重復”回路”式測試解決了元件發熱和間歇的問題;

                 ?軟件自校準功能;

                 ?自動測試測DUT短路、開路或誤接現象,如果發現,就立即停止測試;

                 ?DUT的功能檢測通過LCD顯示出被測器件/DUT的類型,顯示測試結果是否合格,并有聲光提示;

                 ?兩種工作模式:手動、自動測試模式。

                   BW-3010B主機和DUT的管腳對應關系

              型號類型

              P1

               T1

              P2

               T2

              P3

              T3

              P4

              T4

              光藕PC817

              A

              A測試端

              K

              K測試端

              E

              E測試端

              C

              C測試端

                                                              


              BW-3010B測試技術指標:

                1、光電傳感器指標:

              輸入正向壓降(VF)

              測試范圍

              分辨率

              精度

              測試條件

              0-2V

              2mV

              <1%+2RD

              0-1000MA




              反向電流(Ir)

              測試范圍

              分辨率

              精度

              測試條件

              0-200UA

              0.2UA

              <2%+2RD

              VR:0-20V




              集電極電流(Ic)

              測試范圍

              分辨率

              精度

              測試條件

              0-40mA

              0.2MA

              <1%+2RD

              VCE:0-20V IF:0-40MA




              輸出導通壓降(VCE(sat))

              測試范圍

              分辨率

              精度

              測試條件

              0-2.000V

              2mV

              1% +5RD

              IC0-40mA

              IF:0-40mA




              輸出漏電流(Iceo)

              測試范圍

              分辨率

              精度

              測試條件

              0-2.000mA

              2UA

              <2%+2RD

              VR:0-20V




              2、光電耦合器:

              耐壓(VCEO)測試指標

              測試范圍

              分辨率

              精度

              測試條件

              0-1400V

              1V

              <2%+2RD

              0-2mA




              輸入正向壓降(VF)

              測試范圍

              分辨率

              精度

              測試條件

              0-2V

              2mV

              <1%+2RD

              0-1000MA




              反向漏電流(ICEO)

              測試范圍

              分辨率

              精度

              測試條件

              0-2000uA

              1UA

              <5% +5RD

              BVCE=25V




              反向漏電流(IR)

              測試范圍

              分辨率

              精度

              測試條件

              0-2000uA

              1UA

              <5% +5RD

              VR=0-20V




              電流傳輸比(CTR)

              測試范圍

              分辨率

              精度

              測試條件

              0-9999

              1%

              1% +5RD

              BVCE0-20V

              IF:0-100MA




              輸出導通壓降(VCE(sat))

              測試范圍

              分辨率

              精度

              測試條件

              0-2.000V

              2mV

              1% +5RD

              IC0-1.000A

              IF:0-1.000A




              可分檔位總數:10檔

                     BW-3010B測試定義與規范:

              AKEC:表示引腳自左向右排列分別為 光耦的,A K E C極.

              VF:IF: 表示測試光耦輸入正向VF壓降時的測試電流.

              Vce:Bv:表示測試光耦輸出端耐壓BVCE時輸入的測試電壓.

              Vce:Ir: 表示測試光耦輸出端耐壓BVCE時輸入的測試電流.

              CTR:IF:表示測試光耦傳輸比時輸入端的測試電流。

              CTR:Vce:表示測試光耦傳輸比時輸出端的測試電壓。

              Vsat:IF:表示測試光耦輸出導通壓降時輸入端的測試電流。

              Vsat:Ic:表示測試光耦輸出導通壓降時輸出端的測試電流。




                 

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