KETT凱特測厚儀/膜厚計LE-373

KETT凱特測厚儀/膜厚計LE-373

KETT凱特測厚儀/膜厚計LE-373

測量方式電磁感應式

測定對象磁性體上非磁性覆膜

測量范圍0～2500μm

測量精度50μm以下：±1μm、50μm以上1000μm以下：±2%、1000μm以上：±3%

分辨率100μm以下：0.1μm、100μm以上：1μm

符合規格JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401/ISO2808、ISO2064、ISO1460、ISO2178、ISO19840/BS3900-C5/ASTM B499、ASTM D7091-5、ASTM E376

數據存儲器數約39000點

校準線存儲器應用程序存儲器：存儲100條校準線

探針一點接觸定壓式（LEP-J）

顯示方法數字（帶背光的LCD、最小顯示位0.1μm）

外部輸出電腦（USB或RS-232C）

電源電池1.5V（單3堿）×4

功耗80mW（背光不亮時）

電池壽命100小時（背光不亮時，連續使用）

使用溫度范圍0～40℃

附加功能各種功能16種

尺寸·質量75（W）×145（D）×31（H）mm、0.34Kg

附件標準板（10μm?50μm?100μm?500μm?1000μm?1500μm均為近似值?各1枚）、標準板殼、鐵質（FE-373）、探針適配器、手提殼、電池1.5V（單3堿）×4

選配標準板（附件以外厚度）、測量支架LW-990、電腦電纜、RS-232CUSB電纜、數據管理軟件：《數據記錄器LDL-03》