芯片量產測試、ATE開發

ATE（automatic test equipment）自動測試系統，用于測試集成電路功能、直流參數和交流參數的測試設備，檢測被測器件參數和性能指標是否滿足規范。集計算機技術、自動化技術、通信技術、精密電子測量技術和微電子技術于一身。

測試依據：集成電路規范、芯片規格書、用戶測試方案 。

測試內容：包含功能測試和DC&AC電參數測試

Open/Short: 檢查芯片引腳中是否有開路或短路。

Function test: Test mode測試芯片的邏輯功能。

Mixed Signal: 驗證數�；旌想娐返墓δ芗靶阅軈�。

DC test: 驗證器件直流電流和電壓參數。

AC test: 驗證交流規格，包括交流輸出信號的質量和信號時序參數。

Eflash: 測試內嵌flash的功能及性能，包含讀寫擦除動

作及功耗和速度等各種參數。

RF test: 測試芯片里面RF模塊的功能及性能參數。

覆蓋芯片類型：

微處理器： CPU、MCU、DSP。

存儲器系列：Sram、flash、dram、 eprom、eeprom、fifo。

模擬、數模混合電路： AD/DA、運放。

可編程邏輯器件 ：FPGA、CPLD。

總線、接口系列： 74/54系列、電平轉換、 RS232、RS485、SPI、 UART、IIC、JTAG。

電源類器件 ：DC-DC、LDO

廣州廣電計量檢測股份有限公司（GRGT）始建于1964年，是原信息產業部電子602計量站，經過50余年的發展，現已成為一家全國化、綜合性的國有第三方計量檢測機構，專注于為客戶提供計量、檢測、認證以及技術咨詢與培訓等專業技術服務，在計量校準、可靠性與環境試驗、電磁兼容檢測等多個領域的技術能力及業務規模處于國內領先水平。

廣電計量可靠性與環境試驗中心具備環境與可靠性試驗、六性設計與分析、元器件篩選與失效分析、仿真設計與分析、材料分析與工藝質量評價、定壽延壽分析等服務能力，可為系統、整機、部件等各類產品提供從研發到生產的全過程技術解決方案。