來自Gatan的3View®

• 配有3View® 的Sigma和GeminiSEM 場發射掃描電子顯微鏡可以實現大樣品的切面成像，同時又有出色的圖像質量。

• 在Sigma 3View® 中通過可變壓力實現電荷中和，減少成像失真。

• GeminiSEM 3View®可以帶給你優異的低電壓成像效果，以及靈活的探測手段。

• 現在你可以給你的GeminiSEM升級局部電荷補償器，消除荷電效應的影響。

• 超高的系統穩定性，即使長時間運行也完全不需要人工干預。

• 蔡司Gemini 技術提供了納米級別分辨率下高達32k × 24k 像素點的單張圖片。
• 相比8k × 8k的單幅成像，相同成像區域下掃描時間只需前者的1/15。
  
• 我們把樣品表面的磁場最小化，這樣即使大視野成像，圖像邊緣同樣清晰。
  
• 對于絕大部分應用，大視野成像意味著你不再需要圖像拼接。
  
• 不僅節約時間而且避免樣品在拼接重疊部分被重復掃描。

• 使用3View® ，你可以在短時間內得到3D結果。
  
• Sigma高束流模式，大幅提升你的成像速度。
  
• 還有更快的: 新型的 OnPoint BSE 檢測器和GeminiSEM 在不影響圖像質量的前提下帶來快速掃描。
  
• 根據不同的應用，最多可以節省90%的時間，一天就能完成以前需要一周的實驗！

3View® 是放置在掃描電鏡樣品倉里的超薄切片機. 塊狀樣品則放置在正對電鏡鏡筒下方的樣品臺上。在上表面被掃描成像之后，樣品會上升很小的一段距離（最小可達15 nm）。此時超薄切片機進刀，削掉樣品頂端的薄薄一層，之后退刀，新的表面再次被成像。以這種方式，樣品反復不斷地被切削，成像，而得到數以千計的切面圖片，從而進行完整的三維重構。

樹脂包埋的樣品，比如單層細胞或者高度血管化的組織，在成像時你經常會遭樣品受荷電效應的困擾，從而導致圖像失真扭曲，質量下降。雖然使用可變壓力的掃描電鏡可以改善這些現象，但同時也會損失圖像信噪比和分辨率。
現在，你可以在配有3View®的GeminiSEM 上搭載由顯微鏡和成像研究國家中心（NCMIR）研制的局部電荷補償器，在保持圖像質量的前提下減少樣品荷電效應。
電荷補償器的工作原理：在樣品上方放置一根極細的進氣針頭，在樣品倉處于高真空狀態時直接將氮氣導到樣品表面上方。而在樣品被切削時針頭自動回縮，不干擾圖像獲取，從而快速得到切面成像的數據。
獲取高分辨的三維成像數據就是如此的方便快捷，遠超想象。

• 高穩定性熱場發射電子槍:長時間保證穩定如一的成像條件
  
• Beam booster減速模式: 低電壓下也有出色的圖像分辨率
  
• 無漏磁設計: 大視野成像且圖像邊緣同樣清晰