基本參數

我公司推出OLED光譜性能測試系統，OLED發射光譜測量系統，OLED光譜分析儀，OLED光電性能測試系統（IVL曲線，外量子效率EQE），OLED載流子遷移率測量系統、光電性能評估系統以及軟件模擬研發系統，為廣大科研工作者和研發機構提供了有力的測試工具。

應用：
         有機發光器件OLED
         量子點LED
         鈣鈦礦LED等

主要測試功能：
        OLED效率測量/EQE測量，功率效率Lm/W 和電流效率 Cd/A；
        發射角度-光譜測量；
        光譜&顏色測量@發射角；
        CIE xyY和顯色指數CRI；
        可視角測量；
        IVL(電流—電壓—亮度)測量；
        PL光致發光和EL電致發光測量；
        p，s極性測量；

主要技術規格：
        角度范圍：-85°~ 85°；
        光譜范圍：360nm~880nm，分辨率1.2nm;