品牌 3v

型號 EDX6000E

元素分析范圍 從硫(S)到鈾(U)

元素含量分析范圍為 1PPm 到 99.99%

測量時間 60-200 秒

檢測限度達 1PPM

能量分辨率 149±5 電子伏特

溫度適應范圍 15℃至 30℃

電源 交流 220V±5V（建議配置交流凈化穩壓電源）

接口 USB3.0

燈絲電壓輸出 1mA

電壓輸出 50kV

通道數 4096

層級 一次可同時分析 3 層以上鍍層

商品介紹

 1.6 技術性能及指標:
               1.6.1  元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)
               1.6.2  元素含量分析范圍為 1PPm 到 99.99%

               1.6.3  測量時間：60-200 秒

               1.6.4  檢測限度達 1PPM

               1.6.5  能量分辨率為 149±5 電子伏特

               1.6.6  溫度適應范圍為 15℃至 30℃

               1.6.7  電源：交流 220V±5V（建議配置交流凈化穩壓電源）
         

        1.7 產品特點:

● EDX6000E 針對鍍層測厚設計的一款產品

● 打破傳統儀器直線的設計，采用流線體的整體化設計，儀器時尚大方

● 采用美國新型的 Si-PIN 探測器，電致冷而非液氮制冷，體積小、數據分析準確，維護成本低

● 采用自主研發的 SES 信號處理系統，有效提高測量的靈敏度，讓測量更精確

● 一鍵式自動測試，使用更簡單，更方便，更人性化

● 七種光路校正準直系統，根據不同樣品自動切換

● 多重防輻射泄露設計，輻射防護級別優于同類產品。

● 一體化散熱設計，使整機散熱性能得到極大提高，保證了核心部件的運行安全

● 機芯溫控技術，保證 X 射線源的安全可靠運行，有效延長其使用壽命，降低使用成本

● 多重儀器配件保護系統，并可通過軟件進行全程監控, 讓儀器工作更穩定、更安全

● 專用測試軟件，標準視窗設計，界面友好，操作方便

● 本機采用 USB3.0 接口，有效地保證了數據準確高速有效的傳輸

2.儀器硬件部分主要配置

2.1 Si-PIN 電制冷半導體探測器

   2.1.1 Si-PIN 電制冷半導體探測器；分辨率：149±5 電子伏特

 2.1.2 放大電路模塊:對樣品特征 X 射線進行探測；把探測采集的信息,進一步放大

2.2 X 射線激發裝置

2.2.1 燈絲電壓輸出：1mA

2.2.2 屬于半損耗型部件，使用壽命達 20000 小時

2.3 高低壓電源

2.3.1 電壓輸出： 50kV

2.3.2  5kv 可控調節

2.3.3 自帶電壓過載保護

2.4 多道脈沖幅度分析器

2.4.1 將采集的模擬信號轉換成數字信號,并將處理結果提供給上位機軟件

2.4.2 通道數： 4096

2.4.3 包含信號增強處理

2.5 光路過濾模塊
      2.5.1 降低 X 射線光路發送過程中的干擾，保證探測器接收信號準確

2.5.2 將準直器與濾光片整合

2.6 準直器自動切換模塊

2.6.1 多達 7 種選擇，口徑分別為 8-1＃, 8-2＃, 8-3＃, 4＃，2＃, 1＃, 0.5＃

  2.7 濾光片自動切換模塊

2.7.1 五種濾光片的自由選擇和切換


      2.8 準直器和濾光片的自由組合模塊

2.8.1 多達幾十種的準直器和濾光片的自由組合


       2.9 工作曲線自動選擇模塊

2.9.1 自動選擇工作曲線，摒棄手動選擇，避免人為操作失誤，將自動化和智能化 操作得
更輕松，使操作更人性，更方便

3. 專用軟件配置
  3.1 專用 鍍層 分析軟件
      3.1.1 專門針對鍍層檢測而開發，對采集的光譜信號進行數據處理、計算并報告
               顯示測量結果。
 

3.3 專用 FP 金屬鍍層分析軟件（可選）

3.3.1 元素分析范圍：從硫（S）到鈾（U）

3.3.2 一次可同時分析 3 層以上鍍層

3.3.3 分析檢出限可達 0.1μm

3.3.4 分析厚度一般為 0.1μm 到 30μm 之間

3.3.5 多次測量重復性可達 0.1μm（對于小于 1μm 的外層鍍層）

3.3.6 長期工作穩定性為 0.1μm（對于小于 1μm 的外層鍍層）

3.3.7 配置小孔準直器，測試光斑在 0.2mm 以內

3.3.8 探測器能量分辨率為 149±5eV

           3.3.9 應用領域:金屬電鍍層厚度的測量,如 Zn/Fe、Ni/Fe、Ni/Cu、Sn/Cu、Ag/Cu