日本原裝進口小坂KOSAKA臺階儀ET200A

臺階儀技術參數：

KOSAKA臺階儀概述：

● ET200A臺階儀適用于二次元表面納米等級段差臺階測定、粗糙度測定;

● ET200A臺階儀擁有高精度．高分解能，搭配一體花崗巖結構，穩定的測量過程及微小的測定力可對應軟質樣品表面進行測量;

● 該型號臺階儀采用直進式檢出器，重復性好。

         ET200A基于Windows 操作系統為多種不同表面提供全方位的形貌分析，包括半導體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫學器件、 薄膜/化學涂層、平板顯示、觸摸屏等。使用金剛石（鉆石）探針接觸測量的方式來實現高精度表面形貌分析應用。

        ET200A能精確可靠地測量出表面臺階形貌、粗糙度、波紋度、磨損度、薄膜應力等多種表面形貌技術參數。

        ET200A配備了各種型號探針，提供了通過過程控制接觸力和垂直范圍的探頭，彩色CCD 原位采集設計，可直接觀察到探針工作時的狀態，更方便準確的定位測試區域。