日本進口小坂KOSAKA LAB EF650粗糙度輪廓儀一體機

日本進口小坂KOSAKA LAB EF650加粗糙度模組

Surfcorder EF650輪廓形狀測定機加上粗糙度模組，可進行高精度，高水平分析和多功能粗糙度及輪廓測量。檢出器更換操作簡單，顯示一目了然。

特點：

*粗糙度配備有符合最新ISO,DIN,ANSI,JIS標準的五十多種評價參數。

*高精度表面粗糙度輪廓測定機，一機兩用，可進行表面粗糙度和輪廓形狀測量。

*通過簡單的一次性操作，可更換形狀、輪廓、測定裝置與表面粗糙度測量裝置，并不必對電纜重新布線。

*輪廓傳感器為寬范圍，高分辨率的檢測器，提供了在同類產品中更優越的高精度測量。

*輪廓傳感器可以前、后雙向測量并進行圖型拼接解析，可在不更換測針或更改工件角度的情況下對于各種復雜位置進行測量。

*配有易于操作的操作桿，選定需要操作的軸，即可實現任何的移動。

*具有獨立明顯的緊急停止按鈕，對于傳感器及設備的保護更周全。

*遙控裝置上具有傳感器X軸及Z軸座標位置指標屏幕（與軟件畫面同步），更便于測量操作。

*獨特的真直度保證。

*配有全息光柵尺，可提高寬/窄范圍測量精度和Z軸的分辨率，增加更加穩定的安全系數。

規格：

小坂KOSAKA粗糙度儀測定

測定參數：多達五十多種，見產品目錄。

放大倍率：縱50-500000，橫1-5000。

測定范圍：縱1200um,橫100mm。

記錄項目：測定值，測定條件，日期時間，輸入資料（各種文字及圖形資料）。

評價長度：0.25,0.8,2.5,8,25,80mm/任意值（0.2mm以上）

 /λc x1，x2，x3，x4，x5。

驅動速度：0.05，0.1，0.2，0.5，1，2 mm/s，高速移動，10mm/s及手動。

切斷值（cut-off）:

粗度：λc 0.008,0.025，0.08，0.25，0.8，2.5，8 mm，R+W(JIS82無CUT-OFF)。

波紋度：fl 0.8,2.5,8,25mm,fh 0.08,0.25,0.8,2.5mm。

濾波方式：高斯（Gauss），2CR，特殊高斯。

資料點/分解能：MAX32000點/16位元。

自動水平：最小二乘法，二點法，R曲面補正，二次曲線補正 。

輔助功能：最自由排列組合記錄，記錄圖刻劃，平均處理，統計處理，中途終止，測定再演算，檢出器登記，注解記錄，自動感度校正，mm/inch單位切換，自動測定，部分處理，圖形放大縮小 復數段差解析，螺距測定。

檢出器上下動作：檢出器上下范圍400mm。

    自動停止精度±0.2um/100mm。（靴片使用時）

X軸真直度精度：0.2um/100mm。

檢出器：觸針R2um鉆石頭，測定力0.7mN。

小坂KOSAKA輪廓儀測定

解析項目：

    排列：原點移動，回轉，反轉，移動。

    要素解析：點，線，圓，山，谷，交點，中點，接點，反轉。

    刻劃量：坐標差，距離，夾角。

放大倍率：縱橫1-200倍。

測定范圍：縱60mm，橫100mm。

綜合精度：Z：±0.25% / 全范圍，X： [±(1 + 0.02L ) um]

驅動速度：0.02，0.05,0.1,0.2,0.5,1,2mm/s。高速移動2,10mm/s及手動。

資料數：MAX300000點。

補助機能：自由排列組合記錄，記錄圖刻劃，巨集功能，圖形放大縮小，數位圓弧補償，過負荷防止，跳動上下，正反兩方向測定 X輸送范圍機能，數據輸出，形狀、解析數據共CSV形式文件。

真直度精度：1um/100mm。

檢出器上下動作范圍：200mm。

檢出器：R25um,10-30mN

追隨角度：爬升77度，下坡87度。

共同規格：

測定臺：(含支柱Column)：測定臺W600 x D315 mm，承載重量：120kg，花崗巖材質。

傾斜調整臺：承載范圍 160 x 50 mm，V 溝槽(測定方向)。

            水平傾斜：±3°

            垂直傾斜：±3°

            Y方向移動量：±3 mm。