汽車車載芯片、集成電路AEC-Q100認證

AEC-Q100認證是什么？

      AEC-Q100是基于集成電路應力測試認證的失效機理。

      如果成功完成根據本文件各要點需要的測試結果，那么將允許供應商聲稱他們的零件通過了AEC Q100 認證。供應商可以與客戶協商，可以在樣品尺寸和條件的認證上比文件要求的要放寬些，但是只有完成要求實現的時候才能認為零件通過了AEC Q100 認證。

零件工作溫度等級的定義

零件工作溫度等級定義如下：

0 等級：環境工作溫度范圍-40℃-150℃

1 等級：環境工作溫度范圍-40℃-125℃

2 等級：環境工作溫度范圍-40℃-105℃

3 等級：環境工作溫度范圍-40℃-85℃

AEC-Q100認證的要求及目的

測試樣品：

1）批次要求：測試樣品應該由認證家族中有代表性的器件構成，由于缺少通用數據就需要有多批次的測試，表1 中列出的測試樣品必須是由非連續晶圓批次中近似均等的數量組成，并在非連續成型批次中裝配。即樣品在生產廠里必須是分散的，或者裝配加工線至少有一個非認證批次；

2）生產要求：所有認證器件都應在制造場所加工處理，有助于量產時零件的傳輸。其他電測試場所可以在其電性質證實有效后用于電測量。

3）測試樣品的再利用：已經用來做非破壞性認證測試的器件可以用來做其他認證測試，而做過破壞性認證測試的器件則除了工程分析外不能再使用；

4）樣品尺寸要求

用于認證測試的樣品尺寸與（或）提交的通用數據必須與表1中的最小樣品尺寸和接受標準相一致。如果供應商選擇使用通用數據來認證，則特殊的測試條件和結果必須記錄并對使用者有可用性�，F有可用的通用數據應首先滿足這些要求和表1的每個測試要求。如果通用數據不能滿足這些要求，就要進行器件特殊認證測試。

5)預前應力測試和應力測試后要求：表1中的附加要求欄為每個測試了終端測試溫度（室溫、高溫和低溫）。溫度特殊值必須設有最差情況，即每個測試中用至少一個批次的

通用數據和器件特殊數據來設置溫度等級極端。

6）應力測試失效后的定義：

測試失效定義為設備不符合測試的器件規范和標準規范，或是供應商的數據表，任何由于環境測試導致的外部物理破壞的器件也要被認為是失效的器件。如果失效的原因被廠商和使用者認為是非正確運轉、靜電放電或一些其他與測試條件不相關的原因，失效就算不上，但作為數據提交的一部份上報。

AEC-Q100試驗后元器件失效分析項目：

① 形貌分析技術：體視顯微鏡、金相顯微鏡、X射線透視、聲學掃描顯微鏡、掃描電鏡、透射電鏡、聚焦離子束。

② 成分檢測技術：X射線能譜EDX、俄歇能譜AES、二次離子質譜SIMS、光譜、色譜、質譜

③ 電分析技術：I-V曲線、半導體參數、LCR參數、集成電路參數、頻譜分析、ESD參數、電子探針、機械探針、絕緣耐壓、繼電器特性。

④ 開封制樣技術：化學開封、機械開封、等離子刻蝕、反應離子刻蝕、化學腐蝕、切片。

⑤ 缺陷定位技術：液晶熱點、紅外熱像、電壓襯度、光發射顯微像、OBIRCH。

車載芯片、集成電路AEC-Q100認證業務代表：

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