二維多點尺寸測量儀

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一、測量原理

將綠色LED?光轉化為均一的平行光進行照射。檢測出二維CMOS?上受光的明暗投影，然后測量其尺寸和角度等。

二、二維多點尺寸測量儀特點

1、實現由“點”到“面”，全范圍測量

傳統的激光掃描方式：激光掃描方式只能測量光點照射的?1?個位置。無法實現多點同時測量或調整傾斜的測量。

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二維多點尺寸測量儀

通過二維測量，可一次捕獲目標物的全部信息。只有在二維條件下才能進行的任意多點測量或邊調整傾斜邊進行測量。

2、相機方式光軸無波動，可測量指定點的尺寸

傳統的激光掃描方式

多面鏡的鏡面精度不同，每個取樣點的激光掃描軌跡也會不同。在激光掃描方式中，馬達勻速旋轉的性能同馬達的使用時間有關，隨著使用時間變長，馬達勻速旋轉的性能將變差。傳統產品使用時間越長，激光掃描軌跡的偏差就會越大。

二維多點尺寸測量儀

采用相機方式，閃動一次快門即可測量整個范圍。?
產品無驅動器，因此可測量指定點的尺寸。

3、高耐久性

傳統的激光掃描方式

因為有驅動器，所以產品的耐久性較差，需要對產品進行維護。此外，傳統產品的光源存在被瞬間高電壓損壞的隱患。

二維多點尺寸測量儀

[?無驅動器?]?
因產品無任何驅動器，可實現高耐久性。這種設計克服了傳統激光掃描方式的弱點－馬達耐久性的問題。?

三、應用范圍

技術解決方案：

產品用途：