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　　株式會社 日立製作所 Hitachi, Ltd.

　　日立電子顯微鏡HD-2700系列 HITACHI正掃描透射顯微鏡

　　高分辨率掃描透射電子顯微鏡成像

　　HAADF-STEM圖像0.136 nm，FFT圖像0.105 nm(高分辨率鏡頭*)

　　HAADF-STEM圖像0.144 nm(標準鏡頭)

　　明場掃描透射電子顯微鏡圖像0.204 nm(w/o球差校正儀)

　　高速，高靈敏度能譜分析：探針電流×10倍

　　元素面分布更迅速及時

　　低濃度元素檢測

　　操作簡化

　　自動圖像對中功能

　　從樣品制備到觀察分析實現無縫連接

　　樣品桿與日立聚焦離子束系統兼容

　　配有各種選購件可執行各種和分析操作

　　同時獲取和顯示SE&BF, SE&DF, BF&DF, DF/EDX面分布*和DF/EELS面分布*圖像。

　　低劑量功能*(使樣品的損傷和污染程度降至)

　　高精度放大校準和測量*

　　實時衍射單元*(同時觀察暗場-掃描透射電子顯微鏡圖像和衍射圖案)

　　采用三維微型柱旋轉樣品桿(360度旋轉)*，具有自動傾斜圖像獲取功能。

　　ELV-3000即時元素面分布系統*(同時獲取暗場-掃描透射電子顯微鏡圖像)