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              Bruker布魯克原子力掃描探針顯微鏡適用于各類AFM樣品
              Bruker布魯克原子力掃描探針顯微鏡適用于各類AFM樣品 價格:\u9762\u8bae  元(人民幣) 產地:上海上海
              最少起訂量:1 發貨地:上海上海
              上架時間:2024-05-10 21:11:52 瀏覽量:22
              鉑悅儀器上海有限公司  
              經營模式:貿易公司 公司類型:
              所屬行業:分析儀器 主要客戶:
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              聯系方式

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              詳細介紹

              產品參數
              品牌布魯克
              規格齊全
              加工定制
              產地德國
              品牌信息Bruker
              分辨率
              模式定量成像模式
              應用行業物理、化學、材料、電子以及生命科學等各個領域。
              性能加熱到250°C,冷卻至-35°C
              可售賣地全國
              型號MultiMode8

              應用靈活性

              · 高分辨率成像和定量的材料性能成像。

              · 提供多模塊功能的MultiMode

              · 發表論文AFM

              · 峰值力模式實現



              定量成像模式
              · Bruker的新型成像模式PeakForce QNM,可以對材料納米尺度的力學性質進行定量檢測,在正常的掃描速率下獲得高分辨率的材料粘附力和彈性模量圖像。與傳統的相位成像和某些廠家的多頻技術不同的是,使用PeakforceQNM模式可獲得、定量的實驗數據。
              · PeakForce TUNA模塊,能夠定量測量樣品的導電特性,這是傳統的導電模式所不能實現的。
              · 推出ScanAsyst-HR, 可以在MultiMode8上實現快速掃描模式。與傳統的AFM相比,在其速度高6倍時仍不損失圖像分辨率,獲得分辨的AFM圖像。掃描速度,可比傳統的AFM高20倍。
              具有高的分辨率和測試性能
              · 迄今為止,利用MultiMode系列原子力顯微鏡,已發表大量高水平論文,幫助科學家們解決了
              · 諸多重大前沿科研問題。MultiMode8采用結構緊湊的剛性設計,即使樣品的測試難度大,測試條件苛刻,也能實現低系統噪音,獲得分辨率的圖像。



              · NanoScope?V控制器提供業界系統噪音和帶寬,大大高了數據分析能力,適用于更多的研究領域。
              · Bruker的Peak Force Tapping? 技術,控制針尖與樣品的作用力,可遠低于TappingMode所需要的力。
              適用于多研究領域
              · 大氣或者溶液環境中,MultiMode8能夠完成樣品檢測,以其分辨率和功能,被廣泛應用于物理、化學、材料、電子以及生命科學等各個領域。



              · 在MultiMode8上可選配溫度調節和環境控制附件。加熱到250°C,冷卻至-35°C,或在水蒸氣和氧氣含量小于1ppm的手套箱中,都可以實現敏感樣品的檢測和成像。
              · MultiMode8基本操作模式的基礎上選配不同功能的附件,可在高分辨成像的同時,獲得樣品的力學、電學、磁學、熱力學等各項性能指標



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