Sinton少子壽命測試儀BLS-I測試單晶多晶硅棒性能測試-中國PLC網

當前位置: 首頁 >> 全部產品 >> 電子 >> 光電子器件 >> Sinton少子壽命測試儀BLS-I測試單晶多晶硅棒性能測試

全部

Sinton少子壽命測試儀BLS-I測試單晶多晶硅棒性能測試

	價格：36.00 元(人民幣)	產地：上海上海
	最少起訂量：1	發貨地：上海上海
	上架時間：2023-10-25 21:48:46	瀏覽量：31
	上海瞬渺光電技術有限公司
	經營模式：代理商	公司類型：私營獨資企業
	所屬行業：光電子器件	主要客戶：高校，研究所
	在線咨詢

聯系方式

聯系人:杜義平 (先生)	手機:17621043207
電話:	傳真:
郵箱:paynedu@126.com	地址:上海市閔行區都會路2338號21幢5樓

詳細介紹

產品參數
品牌	Sinton Instrument
規格	BLS-I
加工定制	是
商品編號(bn)	BLS-I
測量原理	QSSPC（準穩態光電導）
電阻率測試范圍	0.5–300 Ohm-cm
少子壽命測量范圍：	100 ns-10 ms
測試模式：	QSSPC，瞬態，壽命歸一化分析
載流子濃度注入范圍：	1013-1016cm-3
測量深度	3mm
偏置光范圍	0-50suns
外界環境溫度：	20°C–25°C
通用電源電壓：	100–240 VAC 50/60 Hz；
傳感器范圍	45x15mm
測試溫度	20-25°
測試范圍	硅棒
尺寸	7.9 cm W x 16.3 cm D x 12.7 cm H
光學常數值	0.7
可售賣地	全國
型號	硅棒少子壽命測試儀

Sinton BLS-I少子壽命測量儀

BLS-I測量系統用于硅、鍺單晶的少數載流子壽命測量，除需要有一個測量平面外，對樣塊體形無嚴格要求，可測塊狀和片狀單晶壽命。壽命測量可靈敏地反映單晶體內重金屬雜質污染及缺陷存在的情況，是單晶質量的重要檢測項目。

Sinton 少子壽命測量儀，BCT-400測試硅錠，BLS-I測試硅棒，Sinton X-閃光燈頭，Sinton X5D閃光燈頭，Sinton X閃光燈座。

BCT-400測量系統不需要做表面鈍化就能直接測量單晶和多晶硅（錠或塊）的少子壽命.
是基于渦流傳感器和紅外光致光電導方法直接測量單晶或者多晶硅棒體少子壽命的設備，具有瞬態和準穩態兩種測量模式。該設備可探測3mm 深度范圍少子壽命，并能輸出不同載流子注入水平下的少子壽命值，可實現低電阻率硅單晶少子壽命測量，并能通過軟件端光強偏置實現單晶缺陷密度計算。

詳情可以咨詢我們的訂購熱線：021-34635258了解最新報價和設備狀況

最新客戶：中山大學、浙江大學、河南大學、西安隆基、常州比太、阿特斯、浙江晶科、晶澳、吳剛玻璃等到等

在線詢盤/留言請仔細填寫準確及時的聯系到你!

您的姓名： * 請輸入您的姓名！
聯系手機： * 請輸入您的手機號！
固話電話： * 請輸入您的電話！
聯系郵箱：
所在單位：
需求數量： * 請輸入需求數量！
咨詢內容：我想了解：《Sinton少子壽命測試儀BLS-I測試單晶多晶硅棒性能測試》的詳細信息.請商家盡快與我聯系。
您要求廠家給您提供：
規格型號付款條件產品目錄最低訂貨量運送資料提供樣本庫存情況包裝材料

今日最新產品

PLC精品

熱門產品

聯系方式

詳細介紹

在線詢盤/留言 請仔細填寫準確及時的聯系到你!

在線詢盤/留言請仔細填寫準確及時的聯系到你!