前聚焦掃描振鏡的開發是因兩軸振鏡受限于輸出物鏡的成本與大小，此限制有礙于在中等大小的掃描范圍內產生較小光斑的功能。前聚焦掃描振鏡滿足客戶對于小光斑大尺寸加工范圍的應用要求，并允許用戶在使用相同掃描振鏡的狀況下改變工作范圍（高達2000x2000mm2），距離和光斑大小。前聚焦技術也適用于移動物件的加工應用。在三維應用中，能夠加工非平面物件或不光滑表面以及高功率產品。目前這些解決方案用于 Nd:YAG, 半導體和CO2激光器。