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              PLC企業資訊
                內置打印機的電磁膜測厚儀的鼎級儀器-堪稱標桿
                發布者:深圳市秋山貿易有限公司  發布時間:2020-11-12 14:07:24

                電磁膜厚計LE-200J

                 

                 

                • 內置打印機的電磁膜測厚儀的鼎級型號
                • 測量范圍0-1500μm
                • 小于15μm的測量精度:±0.3μm,15μm或更高:±2%
                • 數據存儲1500點,統計計算功能

                 

                主要規格

                測量方式電磁感應式
                測量目標磁性金屬上的非磁性涂層
                測量范圍0-1500μm或60.00密耳
                測量精度小于15μm:±0.3μm,15μm或以上:±2%
                解析度小于100μm:0.1μm,100μm或更大:1.0μm
                符合標準JIS K5600-1-7,JIS H8501,JIS H0401 / ISO 2808,ISO 2064,ISO 1460,ISO 2178,ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499,ASTM D 7091-5,ASTM E 376
                統計功能測量次數,平均值,標準偏差,最大值,最小值,程序段號
                探測單點接觸恒壓型(LEP-J)
                顯示方式數字(LCD,最小顯示位數0.1μm)
                外部輸出RS-232C接口(傳輸速度2400bps)
                電源供應AC100V(50 / 60Hz)或電池1.5V(AA堿性)主機x 6,打印機x 4
                尺寸/質量120(W)x 250(D)x 55(H)毫米,1.0公斤
                配件標準板(10μm,50μm,100μm,350μm,800μm,1 mm,所有近似值,各1張),鐵底座,標準板盒,電池1.5 V(AA堿性),AC適配器,探針適配器,打印機紙,攜帶案件
                選項L型探頭(LEP-21L),RS-232C連接電纜,數據管理軟件“ Data Logger KLD-01”,“ McWAVE Lite”,“ McWAVE Standard”,“ McWAVE Professional”,“ MultiProp”

                 

                關于凱特的膜厚計

                 

                膜厚計的種類和用途

                對使用金屬的工業產品,在表面進行涂飾和鍍金等處理。在表面處理層中,薄的話容易產生腐蝕,厚的話經濟損失會變大,而且厚度不一定的話會降低不美觀的商品價值。也就是說,在涂飾和鍍金方面正確管理厚度是很重要的,承擔這一點的測定器是膜厚計。

                根據素地金屬和測定的涂層的組合,有測定原理不同的幾種陣容,請選擇合適的種類。

                電磁膜厚計的測量原理

                 

                渦流膜厚計的測量原理

                 

                磁性核

                 

                使交流電磁鐵接近鐵(磁性金屬)的話,根據接近距離,貫穿線圈的磁通數會發生變化,因此線圈兩端的電壓會發生變化。

                從電流值讀取該電壓變化

                取,換算成膜厚。

                可以測量磁性金屬上的非磁性涂層。

                 

                絕緣體鐵芯

                 

                如果將流過一定高頻電流的感應線圈靠近金屬,金屬表面會產生渦流。這個渦流根據感應線圈和金屬面的距離而變化,因此感應線圈兩端的電壓也會變化。

                將此變化從電流值轉換為讀取膜厚度。可以測量非磁性金屬上的絕緣涂層。

                 

                磁場

                次線圈電壓的變化

                二次線圈涂層磁性金屬

                          

                磁場

                                                                                      文件電壓的變化

                皮膜

                                                                              非磁性金屬渦流

                膜厚計的種類分類/可測量的基底和涂層

                ■:電磁膜厚計■:渦流膜厚計F:費舍爾鏡:可附帶條件?

                 

                 

                不銹鋼材質有時不能根據條件進行測定。請事先咨詢。□空欄部分的組合可能會有一部分可以測定。請咨詢。

                ■附屬?選配標準板一覽(產品附帶的標準板與下表不同,是實測的近似值)

                             容器種類

                張數

                 

                 

                 

                厚度(μm)

                 

                 

                 

                材質

                LE-200J/LZ-200J

                6

                10

                50

                100

                350

                 

                800

                1000

                 

                 

                LH-200J

                5

                10

                50

                100

                350

                 

                800

                 

                 

                 

                LE-373/LZ-373

                6

                10

                50

                100

                 

                500

                 

                1000

                1500

                 

                LH-373

                5

                10

                50

                100

                 

                500

                 

                1000

                 

                聚酯薄膜

                LZ-990

                3

                 

                50

                100

                 

                 

                 

                1000

                 

                 

                所有設備類型通用選項

                10

                25 37

                50 75

                100

                125

                250

                300 350

                500 700

                800

                1000

                1500

                 

                ■探測一覽

                類型

                鋼筆型探頭(標準附屬):LEP-J/LHP-J

                管內面測定用探頭(選配件):LEP-22

                對應器種類

                LE-200J/LH-200J/LZ-200J LE-373/LH-373/LZ-373

                LE-200J

                尺寸

                 

                 

                類型

                L型探頭(選配件):LEP-21L

                對應器種類

                LE-200J/LZ-200J LE-373/LZ-373

                 

                 

                ■膜厚計適用規格一覽

                測定方式

                容器種類

                規格

                電磁感應式

                LE-200J LE-373

                JIS K5600-1-7、JIS H0401、JIS H8401、JIS H8501、JIS H8641

                ISO 1460、ISO 2064、ISO 2178、ISO 2808、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、 ASTM D 7091-5、ASTM E 376

                渦流式

                LH-200J LH-373

                JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H8680-2

                ISO 2064、ISO 2360、ISO 2808、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 244、 ASTM D 7091-5、ASTM E 376

                雙重

                LZ-200J LZ-373

                電磁感應式時

                JIS K5600-1-7、JIS H0401、JIS H8401、JIS H8501、JIS H8641

                ISO 1460、ISO 2064、ISO 2178、ISO 2808、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、ASTM D 7091-5、ASTM E 376

                類型

                LZ-990

                渦流式的情況

                JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H8680-2

                ISO 2064、ISO 2360、ISO 2808、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 244、 ASTM D 7091-5、ASTM E 376

                電磁膜厚計LE-200J

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