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              PLC企業資訊
                定西95噴熔布級別檢測設備
                發布者:15366215472  發布時間:2020-06-16 20:17:06
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                1:95噴熔布級別檢測設備圖片
                2:定西95噴熔布級別檢測設備工作原理
                3:定西95噴熔布級別檢測設備哪家好
                4:定西95噴熔布級別檢測設備參數
                5:定西95噴熔布級別檢測設備操作
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                定西95噴熔布級別檢測設備
                定西95噴熔布級別檢測設備
                半導體生產流程由晶圓制造,晶圓測試,芯片封裝和封裝后測試組成,晶圓制造和芯片封裝討論較多,而測試環節的相關知識經常被邊緣化,下面集中介紹集成電路芯片測試的相關內容,主要集中在WAT,CP和FT三個環節。集成電路設計、制造、封裝流程示意圖WAT(WaferAcceptanceTest)測試,也叫PCM(ProcessControlMonitoring),對Wafer劃片槽(ScribeLine)測試鍵(TestKey)的測試,通過電性參數來監控各步工藝是否正常和穩定,CMOS的電容,電阻,Contact,metalLine等,一般在wafer完成制程前,是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據,測試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上,ProbeCard另一端接在WAT測試機臺上,由WATRecipe自動控制測試位置和內容,測完某條TestKey后,ProbeCard會自動移到下一條TestKey,直到整片Wafer測試完成。

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